Lens Thick非接触式光学测厚仪40-1

LensThick光学测厚仪的操作简单，每次可轻松获得可靠的厚度值。测量数据经过数字信号处理器计算，通过USB传输到PC，再以图形的形式显示在用户界面，可直接读取每层厚度值，操作更简单、更直观。​​​​​
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典型应用
1. 光学元件和透镜组件：测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔​​​​​
2. 隐形眼镜和人工晶状体：测量中心厚度、矢高和群折射率​​​​​
3. 医用导管窥镜：可同时测量管壁厚、内径和外径​​​​​
4. LCD、LED、OLED和AMOLED显示屏：测量总 厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层​​​​​
5. 半导体：硅/砷化镓晶片​​​​​
6. 抛光玻璃：测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻​​​​​
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主要优势
1. 非接触式测量，不会造成元件表面损坏或变形​​​​​
2. 用于精确定位测量位置的可见光束​​​​​
3. 最多可同时测量31层厚度​​​​​
4. 最高精度±0.1微米​​​​​
5. 测量重复性达±0.02微米​​​​​
6. 基于内部固有长度标 准，实时显示测量数据​​​​​
7. 测量结果可追溯至NIST标准​​​​​
8. 测量最小物理厚度可达16微米（折射率1.5时）​​​​​
9. 集成装置，操作简便​​​​​
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测量过程
1. 将光学测量头对准被测产品​​​​​
2. 激光通过光学测量头照射到材料表面​​​​​
3. 光学测量头收集反射光并将其返回到系统的干涉仪进行分析​​​​​
4. 测量数据通过USB传输到电脑​​​​​
5. LensThick软件用于显示测量结果、设置参数及输出数据报告​​​​​
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测量软件
光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时优化。​​​​​
自动峰值模式：使用操作员创建的样品设计文件，可以定义最多32个反射面（31层）的预期峰值位置，软件可自动识别在指定的阈度内最接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。

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