联合光科提供多种光学检测系统的仪器设备，GU OPTICS光电自准直仪、ARGOS 表面疵病检测仪、光学镜头测试系统、Inframet光电成像测试系统、OptiSurf®镜面定位仪、Tsubosaka成像系统测试。 光电自准直仪利用光的自准直原理，将角度测量转换为线性测量的一种高精度计量仪器，可以检测直线度、平面度、垂直度、平行度等指标。联合光科提供一系列高性价比光电自准直仪产品， 测角精度高达0.1角秒，多种焦距口径可供选择。ARGOS 表面疵病检测仪可以检测光学元件及光纤端面的疵病。光学非接触式测厚仪利用低相干光干涉测量方法来精确测量厚度。联合光科的光学检测设备可用于各类光学元件、成像系统的检测，可广泛用于科学研发和工业生产。
