μPhase®干涉仪
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全欧光学μPhase®高精度干涉仪,是用来测量光学元件的面型的仪器,可测量平面、球面、圆柱面、复曲面和非球面等元件的面型,光学镜头的透射波前,球面镜的曲率等。可测量元件的材料有光学玻璃材料,塑料,陶瓷和金属等。干涉仪为非接触式测量,可保证获得对光学元件表面和波前的高精度数据的同时,不会损坏光学元件的表面,测量原理为泰曼格林型或菲索型。同时分析软件可对采集的数据进行离线分析和管理。
产品基于模块化设计,为用户提供了非球面模块,圆柱分析模块,光纤连接模块,棱镜分析模块,楔形分析等模块以供选择,并可为用户提供模块化定制服务。
μPhase®高精度干涉仪的典型应用为集成在单点金刚石车床中,对被加工工件进行在线实时检测,通过软件分析,弥补车床加工误差,以保证加工精度。产品还搭配了高分辨率相机,可选配多种镜头,标准波长632.8nm光源,并可对XYZ轴高精度调节。
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