产品应用
- 测量抛光光学表面的面型和透射波前
OptoFlat高精度低相位干涉仪
1款产品产品应用
- 自动光强调节与FlexFlatTM传输平台相结合，减少了操作人员在测量时的干预
- 无需反复测量，无需扫描测试位置
- 与其他基于激光的Fizeau干涉仪不同，OptoFlat集成了长寿命的LED光源
- 内置专有的PurePhaseTM方法提升了在不稳定的振动环境中的干涉相位测量
- 校准过的低畸变1X和4X光学放大倍率的比例尺准确的测试面积尺寸，可自动标记或用户定义有效通光孔径，便于判定测试合格/不合格
- 简单易用的测试软件界面便于光学原件的批量测试，使任何人只要稍加培训就可以轻松测试多样的光学原件，专业的样品承载台可快速批量测试每个零件。非接触式传感器开始测量并能快速分析判断产品合格/不合格
- 设计简洁，占地小，没有杂乱的电缆，只有交流电源和USB电缆到电脑
| 产品编号 | 750179 | |
| 产品型号 | OptoFlat | |
| 放大倍率 | 1×放大倍率 | 4×放大倍率 |
| 有效测量区域 | Φ101.6mm | Φ25.4mm |
| 相机分辨率 | 1200×1200pixels | 1920×1200pixels |
| 相机频率 | 40Hz | 40Hz |
| 空间采样 | 88μm/pixel | 22μm/pixel |
| 畸变 | 0.08% | 0.05% |
| 景深 | +/-12.6mm | +/-2.2mm |
| RMS测量精度 | 0.1nm | |
| RMS重复性 | 0.03nm | |
| 波长 | 633nm,1nm FWHM | |
| 相干深度 | 300μm | |
| 工作距离 | 90mm | |
| 倾斜调整范围 | +/-2° | |
| 平移调整范围 | +/-8mm | |
| 样品承载台 | 175×175mm | |
| 轴向移动范围 | 65mm连续移动，100mm拆掉垫圈 | |
| 最大被测样品 | 100mm厚，5kg重 | |
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