新型μPhase® ST/ST+R生产/研发专用干涉仪能够快速测量光学表面和波前，测量时间只需数秒钟。 该干涉仪操作简单，集成校准模式，测量迅速，是在线检测平面和球面样品的理想设备。 产品应用 用于测量平面和球面样品 可用于基于10mm和50mm的光学器件 紧凑型桌面设置，用于垂直测量，占地面积小 通过集成的倾斜和xy平移台实现样品优化校准 垂直轴用于高精度调整，可粗调和微调 可选半径测量功能