WaveSensor®150 波前传感器

WaveSensor®系列产品是应用哈特曼—夏克传感器的测量原理研制而成的，并配备专门的操作与分析软件，可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜镜面面形精度的检测等。利用WaveSensor®可获得丰富的光束质量及空间、时间信息，是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段，因此WaveSensor®已成为检测各类大型反射镜面形的一种专用设备。

应用范围
1. 常规光学元件面形检测（平面、球面、透镜等）
2. 大口径光学元件检测
3. 光学系统像差检测
4. 激光器输出波面检测
5. 光束质量诊断
6. 光束动态变化测量
7. 自适应系统的波前探测

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