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WaveMaster® PLAN平面元件波前测量仪

2产品

WaveMaster® PLAN适用于使用夏克哈特曼传感器的波前分析对平面进行质量检查。

产品特点

平面光学元件的综合波前分析

快速简便的测量：手动放置样品，并通过X-Y表进行调整

通过抗振结构实现稳定且与环境无关的测量系统

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