工作范围在可见光、近红外以及短波红外的电子成像探测器生成的二维电子图像在工业、国防、安全、科研、环保、医疗等领域有着重要的应用。工作范围在VIS/NIR波段的成像探测器几乎全部基于硅材料的技术：彩色或者单色制式的CCD、 CMOS.ICCD、EMCCD、EBAPS、sCMOS等。彩色VIS/NIR探测器的工作波段只局限于可见光波段而单色VIS/NIR探测器的工作波段则可以达到1000nm。
InGaAs成像探测器的工作范围在SWIR波段：非制冷类型工作在900nm-1700nm；制冷类型工作在1000nm到约2200nm以及特殊的带宽从600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探测器在红外波段（可到1300nm或者更长）具有更高的灵敏度，目前是市场上的新技术。
VIT测试系统是一个可扩展的用于测试硅成像探测器、黑硅成像探测器以及InGaAs成像探测器的测试系统，支持硅/黑硅/InGaAs成像探测器所有重要参数的测试。

VIT测试系统组成
1. 双光源
2. 探测器控制器
3. 图像采集卡
4. PC组
5. 测试软件（DIP控制软件，CON控制软件，VITO测试软件）

VIT测试系统测试功能
1. 辐射参数：相对光谱灵敏度，量子效率，灵敏度，动态范围，线性度，NEI，固定图形噪声，非均匀性，信噪比，坏像素数，3D噪声
2. 成像参数：调至传递函数，分辨率，最小可分辨对比度，视场