M²激光束质量分析仪
2产品由于光斑分析仪应用刀口式扫描的原理,需要通过刀口截取激光面,因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求,我们为用户提供了特殊型号选择,700755。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台,可以实现对350-1600nm波段脉冲激光的测量,解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关,因此对于微米级的激光束,刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高,M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量,配置USB3.0接口,通过连接移动端,实现数据快速传输以及便捷使用。
联合光科提供M2Beam光束质量分析仪的普通版本以及高功率版本,通过配置风冷束流采样器,可以实现高功率的检测,从而保护探测头不受功率损伤。
光谱范围
激光功率范围
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光谱范围
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Si:350-1100nm,InGaAs;800-1800nm,UV-Enhanced:190 - 1100nm,InGaAs enhanced:800-2700nm
100µW-1W (with supplied internal filters for the Si version),100µW -5mW for InGaAs&UV versions Up to 4kW for HP version
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