M²激光束质量分析仪
2款产品由于光斑分析仪应用刀口式扫描的原理，需要通过刀口截取激光面，因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求，我们为用户提供了特殊型号选择，700755。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台，可以实现对350-1600nm波段脉冲激光的测量，解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关，因此对于微米级的激光束，刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高，M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量，配置USB3.0接口，通过连接移动端，实现数据快速传输以及便捷使用。
联合光科提供M2Beam光束质量分析仪的普通版本以及高功率版本，通过配置风冷束流采样器，可以实现高功率的检测，从而保护探测头不受功率损伤。
光谱范围
激光功率范围
货期
| 产品编号 | 光谱范围 | 激光功率范围 | 货期 | 对比 | 价格 | 购买 | ||
|
|
700754 | Si:350-1100nm,InGaAs;800-1800nm,UV-Enhanced:190 - 1100nm,InGaAs enhanced:800-2700nm | 100µW-1W (with supplied internal filters for the Si version),100µW -5mW for InGaAs&UV versions Up to 4kW for HP version |
|
请询价 |
|
||
|
|
||||||||
|
|
700755 | 350-1350nm (VIS NIR)，内置特殊CMOS技术 | 10µW-100 mW，内置滤光轮HP：到达4kW |
|
请询价 |
|
||
|
|
||||||||
暂无产品
- 可检测连续激光以及脉冲激光
- 独特的断层图像重建技术
- 透镜尺寸25mm,可以实现较大光束直径的测量
- USB3.0接口快速数据传输
- 激光质量监控
- 可配置采样器，实现高功率激光检测
- 即插即用，使用便捷
暂无相关产品